电容表面字符及划伤缺陷

发布时间:2020-05-27浏览次数:106

案例说明:

普通光源高角度直射到样品上时,其表面会存在反光干扰,亮度不均匀。采样条光两侧低角度打光,偏振镜同时配合使用,可有效消除反光,白色字符与黑色背景对比度提高,表皮破损划伤地方显白色。

 

可使用光源:HMTGD150x34R6-24V


blob.png

你觉得这篇文章怎么样?

0 0

苏州华明智能科技有限公司微信扫码 关注我们

  • 24小时咨询热线

    24小时咨询热线17601597896

  • 电话

    企业邮箱huamingai@126.com

Copyright © 2018 苏州华明智能科技有限公司 地址:苏州市工业园区唯新路50号4幢 备案号:苏ICP备20029758号 网站地图百度 / 谷歌

技术支持:[苏州商动力]